Информация об авторе
Гусев, А. И.
| Выпуск | Раздел | Название | Файл |
| Том 60, № 6 (2024) | Статьи | Размер экситонов в полупроводниковых сульфидах MS (M = Cu, Ag, Zn, Cd, Hg, Sn, Pb) |
Способы оплаты
Пользователь
Уведомления
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Информация
Ключевые слова
Выставка-коллекция веществ особой чистоты
дифференциальная сканирующая калориметрия
диэлектрическая проницаемость
керамика
кристаллическая структура
микроструктура
оксид алюминия
плотность
примесный состав
рентгенофазовый анализ
самораспространяющийся высокотемпературный синтез
синтез
твердофазный синтез
твердые растворы
твердый раствор
теплоемкость
теплопроводность
тонкие пленки
удельная поверхность
фазовый состав
физико-химический анализ
×
Способы оплаты
Пользователь
Уведомления
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Информация
Ключевые слова
Выставка-коллекция веществ особой чистоты
дифференциальная сканирующая калориметрия
диэлектрическая проницаемость
керамика
кристаллическая структура
микроструктура
оксид алюминия
плотность
примесный состав
рентгенофазовый анализ
самораспространяющийся высокотемпературный синтез
синтез
твердофазный синтез
твердые растворы
твердый раствор
теплоемкость
теплопроводность
тонкие пленки
удельная поверхность
фазовый состав
физико-химический анализ