Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.

Об авторах

М. В Сясько

Санкт-Петербургский Государственный Университет

Санкт-Петербург, Россия

И. П Соловьев

Санкт-Петербургский Государственный Университет

Санкт-Петербург, Россия

П. В Соломенчук

ООО «Константа»

Email: pavel257@mail.ru
Санкт-Петербург, Россия

Список литературы

  1. ГОСТ Р ИСО 2360-2021 Неэлектропроводящие покрытия на немагнитных электропроводящих металлических основаниях. Измерение толщины покрытия. Амплитудный вихретоковый метод.
  2. Сясько В.А. Измерение толщины неферромагнитных металлических покрытий на изделиях из цветных металлов с использованием вихретокового частотного метода // Дефектоскопия. 2010. № 12. С. 39-48. EDN NQVXWJ.
  3. Syasko V. Optimization of structure and operation algorithms for electromagnetic plated coatings thickness meters with the use of digital technologies / In proceedings of the BINDT/45th Annual British Conference on Non-Destructive Testing 2006, Shanghai, China, 25-28 October 2008.
  4. Ласло М. Вычислительная геометрия и компьютерная графика на С++. М.: БИНОМ, 1997. 304 с.
  5. Syasko M., Solomenchuk P., Soloviev I., Ampilova N.A. Technique for Multi-Parameter Signal Processing of an Eddy-Current Probe for Measuring the Thickness of Non-Conductive Coatings on Non-Magnetic Electrically Conductive Base Metals // Appl. Sci. 2023. V. 13. P. 5144. https://doi.org/10.3390/app13085144

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2023